Popis a nastavení systému AFM mikroskopu NTGra Vita

Popis a nastavení systému AFM
mikroskopu NTGra Vita
Zobrazování vzorků v suchém prostředí
Hlava pro skenování vzorkem
Verze 20110624
Jan Přibyl, [email protected]
Hlavní součásti mikroskopu AFM
Pomocný
mikroskop
Zdroj světla
pro pomocný
mikroskop
Měřící
základna
Ochranný kryt proti
elektroaktustickému
šumu
Měřící hlava
Antivibrační
skolek
Ovládací elektronika
Standardní stolní PC
Kotroler pro teplotní moduly
AFM kontroler
Stabilizační (antivibrační) stolek
Hlava pro skenování vzorkem, horní pohled
Příprava k měření mikroskopem AFM:
1. Umístění vzorku na měřící základnu AFM
2. Vložení kantileveru do držáku (hlavy) AFM
3. Ladění laseru
4. Poslední kroky před měřením
Umístění vzorku pod AFM mikroskop
Menší tenké vzorky (většinou
slída, HOPG) se umísťují na
speciální podložku s uzemňovacím
svodem
Konektror uzemnění do otvoru 2.
Vzorek stačí fixovat právě
zemnícím drátkem, není potřeba
ho k podložce lepit.
Vždy zkontrolujte, zda je vzorek
dostatečně zajištěn ve vertikální
rovině.
Příprava k měření mikroskopem AFM:
1. Umístění vzorku na měřící základnu AFM
2. Vložení kantileveru do držáku (hlavy) AFM
3. Ladění laseru
4. Poslední kroky před měřením
Vložení kantileveru do jeho držáku
na měřící hlavě
Umístění kantileveru
Skenovací hlava
umístěna na základně
AFM mikroskopu
připravená pro měření
Příprava k měření mikroskopem AFM:
1. Umístění vzorku na měřící základnu AFM
2. Vložení kantileveru do držáku (hlavy) AFM
3. Ladění laseru
4. Poslední kroky před měřením
2. Obraz laseru na
středu fotodiody
1. Maximální odraz
od hrotu cantileveru
Hlava pro skenování vzorkem
1,2 – Lazení LASER
3,4 – Ladění PHOTODIODE
5 – Uvolnění držáku kantileveru
6 - Laserová dioda
7 – 4segmentová fotodioda
1. Maximalizace odrazu laseru od kantileveru
Na pomocném mikroskopu vypadá
výsledný obraz odrazu asi takto
Pohybem koleček LASER (na měřící hlavě) laserový paprsek:
• Správná pozice na kantileveru
• Maximální odraz (Laser = max. hodnota)
• Obraz není na středu fotodiody
Ladění bez pomocného mikroskopu
Umístit hlavu nad kontrastní podložku, sledujeme:
A.
Tvar laserového paprsku prošlého přes cantilever (poloha paprsku)
B.
Síla signálu laseru
A
B
2. Umístění obrazu na střed fotodiody
Pohybem koleček PHOTODIODE (na měřící hlavě) docílit stav:
Pozn.: Signál Laser se oproti předchozímu stavu může mírně snížit.
Příprava k měření mikroskopem AFM:
1. Umístění vzorku na měřící základnu AFM
2. Vložení kantileveru do držáku (hlavy) AFM
3. Ladění laseru
4. Poslední kroky před měřením
Přiblížení vzorku ke kantileveru
• Po naladění laseru umístit hlavu na základnu
• Kontrola kabeláže k hlavám
• Přiblížit vzorek ke kantileveru pomocným kolečkem:
Vzdálenost vzorek-hrot
0,5 až 1 mm
Umístění ochranného krytu
Aktivace antivibračního stolku
Antivibrační funkce stolu se aktivuje
stisknutím tlačítka E a je indikována
trvalým svícením červené diody ISOL. ON
Pozn. Při manipulaci s ochranným krytem je dobré aktivní antivibraci deaktivovat.
Při odpojování konektorů je dobré stolek zamknout pomocí funkce
LOCK (v Menu šipkami).
Nyní je příprava „hardware“ mikroskopu
ukončena a je možné ho ovládat jen
pomocí software, tj. pomocí počítače.