CMI 900

COATINGS
CMI900
Rychlé a ekonomicky výhodné stanovení tloušťky povlaků
a jejich prvkového složení metodou XRF
Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý
CMI9
CMI900: Garantovaná kvalita a snížené náklady
Elektronika
Au
Ni
Cu
Epoxy
Au
Pd
Ni
Cu
Vrchní vrstva:
Au (zlato) tloušťka
povlaku
Druhá vrstva:
Pd (paladium) tloušťka
povlaku
Pokovování
SnPb
Ni
Cu
Epoxy
Sn
Ni
Ag
Keramika
Au
Pd
Ni
Cu
Au
Ni
Cu slitiny
NiP
Al
Ag
Cu
Epoxy
Ni
Cu
Pájitelnost
Elektrické
kontakty
Povrchová úprava
Cr
Zn
Fe
NiP
Fe
Korozní
odolnost
TiN
Ocel
TiAlN
Karbid W
Cr
Fe
Odolnost proti
povětrnostním
vlivům/teplu
ZrCN
Mosaz
Cr
Ni
Cu
Al
AuCuCd
Ni
Cu
Dekorativní
úprava
povrchů
Elektrické a elektronické součástky
Pokovování
Zvýšení produktivity s lepším řízením procesu
Minimalizace výrobních nákladů při procesu
pokovení a maximalizace produkce
• Záruka spolehlivosti komponent
– Složení pájecích slitin a měření tloušťek
Třetí vrstva:
Ni (nikl) tloušťka
povlaku
• Záruka životnosti výrobku díky
Čtvrtá vrstva:
Základní materiál
Např.:
optimalizovanému řízení kvality
– Analýza zlaté a paladiové vrstvy
na elektrických kontaktech
– Tloušťka povlaku vrstvy NiP
na počítačových pevných discích
CMI900
ZnFe
Fe
• Rychlost a jednoduchost analýzy
– Stanovení tlouštěk jednoprvkových
i slitinových vrstev včetně analýzy jejich
chemického složení
– Analýza až 4 vrstev
– Analýza pokovovacích lázní
900
Rtg. fluorescence (XRF)
Rtg. paprsky tvoří část
Elektron je vyražen z hladiny s nízkou
elektromagnetického spektra a
energií (viz diagram) a vytvoří se
jsou charakterizovány jejich energií
prázdné místo (vakance). Důsledkem je,
(v kiloelektronvoltech - keV) nebo
že elektron z vyšší energetické hladiny
vlnovou délkou (v nanometrech - nm).
přeskočí do této vakance.
Rtg. fluorescence je důsledek změn,
Energetický rozdíl odpovídající přechodu
které nastanou uvnitř atomu. Stabilní
elektronu mezi těmito hladinami se
atom obsahuje jádro, které obklopují
uvolní ve formě sekundárního záření,
elektrony. Obklopující elektrony jsou
které je charakteristické pro daný atom
z hlediska své energie uspořádány do
(prvek). Tento jev se nazývá rentgenová
slupek. Každá slupka obsahuje elektrony
fluorescence.
se stejnou energií. Jestliže na atom
dopadne primární rtg. záření s vysokou
Kovové slitiny
% Au
% Ni
% Cu
% Zn
% Cr
% Fe
% Ni
% Mo
Rtg. lampa
energií, poruší se jeho stabilita.
% Au
% Ag
% Cu
% Zn
Primární rtg. paprsky
Detektor
Rtg.
lampa
Jádro
Chemický rozbor a identifikace
Vyražený
elektron
Fluorescenční rtg.
paprsky
Detektor
Vzorek
Složení kovových slitin
a identifikace
Rychlá a nedestruktivní analýza
bižuterie, šperků a jiných slitin
•
• Stanovení ryzosti
• Materiálová identifikace
Analýza drahých kovů
Jak využívá CMI900 rentgenovou fluorescenci?
• Rtg. lampa ozařuje zkoumaný vzorek a excituje fotony
• Detektor měří sekundární neboli fluorescenční rtg. záření
• Intenzita vybuzeného rtg. záření určuje tloušťku a/nebo složení vrstvy
Výhody analýzy rtg. fluorescencí
• Minimální nebo žádná příprava vzorku
• Nedestruktivní analýza
• Široký rozsah prvkového rozboru, Ti až U
• Analýza pevných látek a roztoků
• Rychlost analýzy: výsledky během několika sekund
• Kvalitativní, semi-kvantitativní a úplná kvantitativní analýza
• Snadné používání s minimálním zaškolením o metodě rtg. fluorescence (XRF)
22
92
CMI900
Analýza tloušťky povlaku je jednoduchá...
1 Umístěte vzorek na měřicí stolek v analyzátoru
• Nedestruktivní analýza: žádná příprava vzorku
• Snadné vložení/umístění vzorku: štěrbinová komora
• Velký měřicí stolek umožňuje měření velkých
plochých vzorků
2 Zaostřete kameru kliknutím na tlačítko
Zaostřeno
• Zaměření vzorku nezávislé na subjektivním vjemu
operátora: Zamiřte a klikněte na laserový zaměřovač
• Jasně vymezená bodová analýza: barevná kamera s
vysokým rozlišením a zvětšením
• Bezobslužný provoz: jednobodová nebo vícebodová
analýza díky programovatelnému stolku v osách XY
(volitelná položka) a Z
Nezaostřeno
• Jednoduchá a rychlá vícebodová analýza:
podle uživatelsky předdefinovaného vzoru
3 Spusťte měření kliknutím na Go
• Během několika vteřin se zobrazí výsledky
• Výsledky uložte, vytiskněte, přepošlete
• Flexibilita zobrazení výsledků pomocí
předdefinovaných/uživatelských
formulářů
Výsledky
CMI900
CMI900
Vysoce výkonný XRF spektrometr
• Rychlá a přesná analýza: proporcionální detektor a 50wattová • Vynikající dlouhodobá stabilita:
mikrofokusovaná rtg. lampa zajišťují vysokou citlivost
• Jednoduché prvkové rozlišení: sekundární terčíkové filtry
zajišťují spektrální rozlišení překrývajících se prvků
• Optimalizovaná výkonnost v širokém prvkovém rozsahu:
optimalizované metody s přednastavenými parametry. CMI900
je dodáván s předinstalovanými parametry pro více než 800
rozličných aplikací
• Automatická teplotní kompenzace měří teplotu zařízení
a generuje korekce pro získání stabilních výsledků
• Jednoduchý a rychlý spektrální kalibrační postup ověřuje
parametry zařízení (jako je např. citlivost) a aplikuje
potřebné korekce
Pevné a odolné provedení
• Provoz v laboratoři nebo ve výrobě
• Odolné průmyslové provedení
• Technologie ověřená v praxi více než 3000 prodanými přístroji po celém světě
Jednoduché nastavení kalibrace
• Nejsou-li k dispozici žádné standardy, dociluje se spolehlivých
výsledků jednoduchým nastavením bezstandardní analýzy
(metodou fundamentálních parametrů – FP), platným pro široký
rozsah tlouštěk a koncentrací
• Jsou-li k dispozici standardy (typicky
1 až 3), docílí se nejlepší přesnosti
empirickou kalibrací
• K vytvoření metody stačí pouze
pár minut
• Pro nejlepší přesnost dodává firma
Oxford Instruments certifikované
standardy (akreditace A2LA
a ISO/IEC 17025)
0
Odstranění kolísání výsledků způsobeného
rozdílným zaměřováním operátorů
Laserové zaměřování
• Jednoduchá operace “zaměř a klikni” zajistí zaostření bodu na
vzorku
• Fixní ohnisková vzdálenost je 12,7 mm, 0,5”
Analýzy různých tvarů a velikostí vzorků
Rtg.
paprsky
Rtg.
lampa
Kolimátor
Vzorek
Multikolimátory
• Optimální výkonnosti se dociluje pomocí flexibilního výběru kolimátorů
• Nejlepší citlivost a rychlost analýzy
• K dispozici je multikolimátor s až 6 kolimátory pro rozšíření
aplikačního rozsahu
Pokročilý bezpečnostní systém
• Evidovaný víceúrovňový přístup do systému
pomocí osobních hesel
• Úroveň „Operátor“ pro snadné používání systému
v provozu bez možnosti zásahu do přístrojového
nastavení
• Úroveň „Supervisor“ pro kalibrování, správu a
údržbu systému
• Úroveň „Technik“ pro systémová servisní nastavení
Tři volitelné konfigurace
Pro vaše analytické požadavky
CMI 900 – Mini well
• Měřicí komora s nastavitelnou
výškou po krocích 12,7 mm, lze
vkládat díly až 160 mm vysoké
CMI 900 s fixním
měřicím stolkem
• Poloha stolku je fixní
• Ekonomické a praktické
• Tato plochá základna poskytuje
ideální platformu pro díly, které
nejsou více než 33 mm (1,30”)
vysoké
• Každá ze tří volitelných
přístrojových variant má
vstupní štěrbinu
uzpůsobenou pro
zakládání nadměrných
vzorků, např. nadměrné
desky plošných spojů
CMI 900
s programovatelným
měřicím stolkem
• Tato konfigurace umožňuje
uživateli automatický
programovatelný výběr části,
která má být analyzována
• Jednoduché navádění stolku
do pozice pro prohlédnutí
oblasti na vzorku a k přesnému
zaměření bodu, který má být
změřen
• Standardní velikost stolku
je 560 mm x 600 mm
(22”-D x 24”-W)
• Posun je 177,8 mm x 177,8 mm
(7” x 7”)
Výkonný a flexibilní
software SRG pro tvorbu
měřicích protokolů
• Dovoluje vytvořit uživatelský formát
protokolu
• Umožňuje integrovat uživatelská
statistická data včetně grafického
znázornění
• Vkládá obrázek vzorku do
protokolu
CMI900
Servis ®
Support
i a celosvětová zákaznická podpora
Firma Oxford Instruments se pyšní těsnou
partnerskou spoluprací se svými
zákazníky. Našim cílem je poskytovat
komplexní technickou podporu a
přístrojový servis během celé životnosti produktů.
Tým specialistů z oddělení zákaznické podpory předává základní technické znalosti o údržbě a
servisu jak zákazníkům, tak naší globální distributorské síti za účelem udržení hladkého chodu vašich
analyzátorů.
Naše globální síť poskytuje široký rozsah
podpory zákazníkům:
Oxford Instruments
Industrial Analysis
For more information please email
[email protected]
UK
High Wycombe
Tel: +44 (0) 1494 442255
China
Shanghai
Tel: +86 21 6132 9688
• Základní a pokročilé uživatelské kurzy
• Podpora a servisní kontrakty pro minimalizaci odstávek,
Finland
Espoo
Tel: +358 9 329 411
• Přístrojová expertní technická poradna Oxford Instruments
• Podpora během záruky a opravy přístrojů
• Software i hardware aktualizace přístroje (Přístrojový upgrade)
• Náhradní díly (dostupné přes vyškolené distributory)
• Spotřební materiály
• Recertifikace a rekalibrace
Germany
Uedem
Tel: +49 (0) 2825 93 83 -0
audit ISO a certifikační procedury
V pozadí vašeho úspěchu
Na vaši investici do našeho přístroje se vztahuje globální a lokální podpora na nejvyšší úrovni s cílem
poskytnout vám její komplexní rozsah k zajištění vašeho úspěchu.
Pro více informací navštivte stránky www.oxford-instruments.com
Autorské právo k této publikaci má Oxford Instruments plc. Tato publikace poskytuje pouze rámcové informace, které (pokud není písemně dohodnuto jinak) nesmí být použity nebo zkopírovány k žádnému účelu ani být součástí jakékoli objednávky nebo smlouvy nebo být použity pro prezentaci odkazující na tyto produkty nebo služby. Strategií firmy Oxford Instruments je stále se zlepšovat. Firma si vyhrazuje právo měnit bez upozornění
specifikaci, vzhled nebo podmínky dodávky jakéhokoli výrobku nebo služby. Oxford Instruments uznává všechny ochranné známky a registrace.
© Oxford Instruments plc, 2010. Všechna práva vyhrazena. Part no: OIA/098/D/1210
Zastoupení pro ČR a SR:
PCS spol. s r.o.
Na Dvorcích 18, 140 00 Praha 4
Tel:+420296796444, Fax:+420296796777
[email protected] www.pcs.cz
Latin America
Concord MA
Tel: +1 978 369 9933 Ext. 220
Singapore
Tel: +65 6337 6848
North America
Concord MA
TOLLFREE: +1 800 447 4717
Tel: +1 978 369 9933
www.oxford-instruments.com