X-Strata980

Micro-XRF
X-Strata980
Rychlé nedestruktivní stanovení tlouštěk vrstev
a jejich prvkového složení metodou XRF
Robustní / Snadno ovladatelný / Spolehlivý
X-St
X-Strata980: Zvýšení kvality produktů a zlepšen
Elektronika
SAC
Ni
Ag
Keramika
Vrchní vrstva:
Složení SAC (SnAgCu)
pájek a měření tlouštěk
Druhá vrstva:
Ni tloušťka povlaku
Třetí vrstva:
Ag tloušťka povlaku
Čtvrtá vrstva:
Základní materiál
SAC
Ni
Ag
Keramika
Au
Ni
Cu
Epoxy
Au
Ni
Cu slitiny
Au/Ag
PdNi
Ni
Cu
NiP
Al
Pokovování
Ag
Cu
Epoxy
Ni
Cu
Cr
Zn
Fe
NiP
Fe
Korozní
odolnost
TiN
Ocel
TiAlN
Karbid W
Cr
Fe
ZrCN
Mosaz
Cr
Ni
Cu
Al
Odolnost proti
povětrnostním
a teplotním
vlivům
AuCuCd
Ni
Cu
Pájitelnost
Elektrické
kontakty
Povrchová úprava
Dekorativní
úprava
povrchů
Elektrické a elektronické součástky
Pokovování
Zvýšení produktivity díky lepšímu řízení výrobního
procesu
Minimalizace výrobních nákladů při procesu
pokovení a maximalizace produkce
• Záruka spolehlivosti jednotlivých komponent
• Rychlost a jednoduchost analýzy
– Simultánní stanovení chemického složení
pájek a tloušťky jejich vrstev
• Záruka životnosti výrobku díky
– Stanovení tlouštěk jednoprvkových i
slitinových vrstev včetně analýzy jejich
chemického složení
optimalizovanému řízení kvality
– Analýza až 4 vrstev (plus základní materiál)
– Analýza zlaté a paladiové vrstvy na
– Analýza pokovovacích lázní
elektrických kontaktech
– Tloušťka povlaku NiP vrstvy na
počítačových pevných discích
• Analýza velmi tenkých vrstev
(např. Au/Pd vrstvy pod 0,1 μm)
X-Strata980
ZnFe
Fe
trata980
ní procesu řízení a kontroly
Testy shody
ppm Pb
ppm Hg
ppm Cd
ppm Cr
ppm Br
Au
Ni
Cu
ppm Pb
SnPb
Ni
Cu
Kovové slitiny
Nebezpečné
materiály
Au
NiPPb
Cu
Vysoká věrohodnost testů
Testování shody dle požadavků
směrnic RoHS/WEEE/ELV*
Zvýšení kontroly kvality pro dosažení
shody výrobků s produktovou specifikací
•
Stanovení nebezpečných prvků
v rozsahu obsahů od ppm až
% Au
% Ni
% Cu
% Zn
% Cr
% Fe
% Ni
% Mo
Alternativní energie
% Au
% Ag
% Cu
% Zn
% Cu
% In
% Ga
% Se
Mo
Sklo
% Cu
% In
% Ga
Keramika
% Cd
% Te
Sklo
Chemické složení a identifikace
Fotovoltaické články
Rozbor chemického složení a
identifikace kovových slitin
Solární panely a palivové
články
Rychlá a nedestruktivní analýza
šperků, bižuterie a jiných
speciálních (např. dentálních) slitin
Zabezpečení uniformity a
efektivity produktů
•
• Stanovení ryzosti
• Materiálová identifikace
• Stanovení nečistot
Analýza drahých kovů
• Analýza složení tenkovrstvých
absorbérů (např. CIS, CIGS, CdTe)
ve fotovoltaických článcích
• Optimalizace elektrické
vodivosti díky stanovení
tloušťky vrstvy
po vysoká %
• Kvantifikace toxických prvků
jako např. Cd, Hg, Pb atd. pro
ověření shody
* Směrnice EU 2002/95/ES o omezení užívání
některých nebezpečných látek v elektrických
a elektronických zařízeních
X-Strata980
Mikro-XRF analýza je snadná:
1 Umístěte vzorek do velké měřicí komory
• Nedestruktivní analýza: Žádná úprava vzorku
• Snadné vkládání a manipulace se vzorkem díky velkému
vstupnímu otvoru
• Bezpečná a bezriziková práce: Uzavřená měřicí komora
• Velikost měřicí komory: 580mm x 510mm x 230mm š/d/v
2 Zaostřete kameru jedním kliknutím tlačítka
• Zaměření vzorku nezávislé na subjektivním vjemu
Zaostřeno
operátora: Zaměřte a klikněte na laserovou fokusaci
• Jasně vymezená bodová analýza: Barevná kamera
s vysokým rozlišením a zvětšením
• Bezobslužný provoz: Jednobodová nebo vícenásobná
analýza díky měřicímu stolku programovatelnému ve
všech osách (X, Y i Z)
Nezaostřeno
• Jednoduchá a rychlá vícebodová analýza:
Uživatelsky předdefinované vzory a programy
3 … a pro spuštění analýzy klikněte na Go
• Zobrazení výsledku během několika sekund
• Rychlé a barevně zvýrazněné vyhodnocení shody Vyhovuje/
Nevyhovuje podle uživatelem nadefinovaných kriterií
• Uložení, tisk nebo odeslání výsledků
• Flexibilita měřicích protokolů díky software SRG pro
uživatelskou tvorbu protokolů
Výsledky
X-Strata980
X-Strat
Pozoruhodná přesnost a správnost
měření a dlouhodobá stabilita
přístroje:
• Rychlá a přesná analýza: Vysoká citlivost díky 100 W
rtg lampě Oxford Instruments
• Jednoduchá identifikace a odlišení prvků:
Velkoplošný polovodičový Si PIN detektor s vysokým
rozlišením, chlazený Peltierovým článkem
• Optimalizace výkonu pro široký prvkový rozsah:
Použití vícenásobných primárních filtrů
• Měření vzorků o velikosti 150 µm:
Vícenásobný kolimátor
• Nízké detekční limity i v takových matricích
jako např. plasty: Speciální měřicí podložka
s nízkým pozadím
Pevné a odolné provedení:
• Nezávislý přístroj: Pouze jeden přívod elektrické
energie
• Kompaktní pracoviště: Vynikající ergonomika
přístroje a malý půdorys
• Provoz možný v laboratorních i provozních
podmínkách
• Odolný průmyslový design
ta980
Analýza velkých a tvarově rozličných dílů
DETEKTOR
KOLIMÁTOR
VZOREK
4”
STOLEK
• Vzorky mohou být měřeny při různé fokální vzdálenosti (od
12,7 mm do 101 mm): Metody připravené pro různé fokální
vzdálenosti a různé tvary a velikosti vzorků
• Měření DIM (nezávislé na fokální vzdálenosti): S touto
volitelnou univerzální kalibrací je možné měřit nepravidelné
vzorky bez ohledu na fokální vzdálenost (měřitelný fokální
rozsah 12,7 – 101 mm)
• Rychlé a přesné nastavení vzorku pomocí automatického nastavení
rozsahu (ARF)
Flexibilní měřicí protokoly:
Široké možnosti exportu dat
• K dispozici kompletní statistická data jako průměr,
standardní odchylka, histogramy a kontrolní diagramy
• Export dat v reálném čase nebo export do Microsoft
ExcelTM pro rychlý tiskový výstup
• Aplikační zástupci umožňují uživateli vybrat kalibrace
pro specifické vzorky jedním kliknutím
• Uživatelské prostředí dostupné v devíti jazycích
Komplexní analýza
Jednoduché kalibrační nastavení pro optimalizovanou analýzu
chemického složení a stanovení tloušťky vrstev
Zvolte nejlepší analytickou metodu pro
Vaši aplikaci:
• I když nejsou k dispozici žádné standardy, poskytnou metody
fundamentálních parametrů FP věrohodné kvantitativní
výsledky. Tyto metody využívají komplexní spektrální databázi
a pokrývají široký rozsah koncentrací a tlouštěk. Připravit
aplikační metodu je tak otázkou několika málo minut
• Jestliže jsou dostupné standardy, které odpovídají měřeným
vzorkům (např. matrice, analyty, rozsah koncentrace), poskytne
větší přesnost empirická kalibrace. Uživatel může díky
intuitivnímu průvodci i po krátkém zaškolení vytvořit vlastní
empirickou kalibraci
Mapovací software pro identifikaci “problémových” ploch vzorku
Pb
Cu
Br
• Kvantitativní analýza nadefinované plochy vzorku během jednoho měřicího cyklu pomocí speciální funkce Mapping
• Zobrazení vzorku s překrytou mapou prvků
• Mapa barevně odlišených prvků usnadní zjištění problémových míst na vzorku
• Provedení plné kvantitativní analýzy pro zjištění neshody
X-Strata980
SUPPORT
Oxford Instruments
Naše globální síť poskytuje široký rozsah zákaznické podpory,
který zahrnuje:
• Technická podpora po telefonu
• Firemní proškolení obsluhy
• Profesionální zaškolení
• Aplikační podpora
• Celosvětové zajištění dodávky
náhradních dílů
• Záruční i pozáruční servis prostřednictvím
lokálních národních servisních zastoupení
• Podpora v národním jazyku
• Dodávky spotřebního materiálu,
recertifikace a rekalibrace
Oxford Instruments
Industrial Analysis
For more information please email
[email protected]
UK
High Wycombe
Tel: +44 (0) 1494 442255
China
Shanghai
Tel: +86 21 6132 9688
Dlouholeté vynikající výsledky
Finland
Espoo
Tel: +358 9 329 411
Firma Oxford Instruments patří již mnoho let k předním celosvětovým
průkopníkům v mnoha vědních oborech a to jak v základním tak i
aplikovaném výzkumu.
Germany
Uedem
Tel: +49 (0) 2825 93 83 -0
Oxford Instruments, který se před padesáti
lety oddělil jako první komerční pobočka
od Univerzity v Oxfordu, je na špici rtg.
technologií od roku 1970.
X-Strata980 je posledním modelem
řady pro rtg. měření povrchových vrstev a
spojuje zkušenosti firmy Oxford Instruments
spolu s flexibilitou, spolehlivostí a
snadným používáním.
Image: Oxford Spires
Pro více informací navštivte stránky www.oxford-instruments.com/xstrata
Autorské právo k této publikaci má Oxford Instruments plc. Tato publikace poskytuje pouze rámcové informace, které (pokud není písemně dohodnuto jinak) nesmí být použity nebo zkopírovány k žádnému účelu ani být součástí jakékoli objednávky nebo smlouvy nebo být použity pro prezentaci odkazující na tyto produkty nebo služby. Strategií firmy Oxford Instruments je stále se zlepšovat. Firma si vyhrazuje právo měnit bez upozornění
specifikaci, vzhled nebo podmínky dodávky jakéhokoli výrobku nebo služby. Oxford Instruments uznává všechny ochranné známky a registrace.
© Oxford Instruments plc, 2010. Všechna práva vyhrazena. Part no: OIIA/029/C/0610
Zastoupení pro ČR a SR
PCS spol. s r.o.
Na Dvorcích 18, 140 00 Praha 4
Tel./Fax:+420 296 796 444/777
[email protected] www.pcs.cz
Latin America
Concord MA
Tel: +1 978 369 9933 Ext. 220
Singapore
Tel: +65 6337 6848
North America
Concord MA
TOLLFREE: +1 800 447 4717
Tel: +1 978 369 9933
www.oxford-instruments.com